四探針測試儀
南北儀器專業(yè)提供實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備一站式解決方案
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產(chǎn)品型號(hào):HP-504
負(fù)責(zé)人:張雅麗
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HP-504型四探針探頭
HP系列四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
◆ 特性及規(guī)格：
1 | te制之手握式探筆 |
2 | 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜不被損傷 |
3 | 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞 |
4 | 探頭使用壽命長 |
5 | 探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ |
◆ 可選配HP系列四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格：
型號(hào) | 曲率半徑 | 壓力 | 探針間距 | 探針排列 |
HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直線 |
HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直線 |
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